通过分析光如何从薄膜反射来测量薄膜厚度。通过分析肉眼看不见的光谱我们能测量几乎所有超过100原子厚度的非金属薄膜。因为不涉及任何移动设备，几秒钟之内就能测出：薄膜厚度，折射率，甚至粗燥度！

为工业界的精英们测量薄膜厚度。 在低价位膜厚测量应用上我们的测量系统有最高的占有率。 事实上我们Filmetrics是唯一能够提供满足几乎所有膜厚测量需求的产品。

单点厚度测量

一键搞定的薄膜厚度和折射率台式测量系统。 测量 1nm 到 3mm 的单层薄膜或多层薄膜堆。

微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量

当测量斑点只有1微米（µm）时，需要用您自己的显微镜或者用我们提供的整个系统。

自动厚度测量系统

几乎任何形状的样品厚度和折射率的自动测绘。人工加载或机器人加载均可。

在线厚度测量系统

监测控制生产过程中移动薄膜厚度。高达100 Hz的采样率可以在多个测量位置得到。